手机版

MLCC电容物理应力导致击穿问题案例(9)

时间:2025-07-06   来源:未知    
字号:

典型的MLCC电容外应力导致失效的诱因.

端加强36VDC全检测试项目,测试进行线上全程跟踪把关,并没有出现烧电容现象。)基于以上现象分析从可靠性角度说,是属于机械应力或热冲击失效后导致烧毁,不可能由电路性能上引起烧毁器件。

后续建议:对G03H电容C27 C39改用不同规格封装来避免出现由于CM0050M028厚度较薄导致物理应力损伤,也可考虑更改PCB布局来改变C27 C39放置方向避免生产过程导致电容损伤。

实验分析

2012年

MLCC电容物理应力导致击穿问题案例(9).doc 将本文的Word文档下载到电脑,方便复制、编辑、收藏和打印
×
二维码
× 游客快捷下载通道(下载后可以自由复制和排版)
VIP包月下载
特价:29 元/月 原价:99元
低至 0.3 元/份 每月下载150
全站内容免费自由复制
VIP包月下载
特价:29 元/月 原价:99元
低至 0.3 元/份 每月下载150
全站内容免费自由复制
注:下载文档有可能出现无法下载或内容有问题,请联系客服协助您处理。
× 常见问题(客服时间:周一到周五 9:30-18:00)