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【合肥工业大学】【半导体器件物理】试卷含答(4)

时间:2025-07-14   来源:未知    
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合肥工业大学

gm

ID VGS ID VDS

VGS constVDS const

Cox nW

LCox nW

L

VDS,

gD

[(VGS VT) VDS]

提高gm的具体措施有:(1)增大载流子迁移率,选用体内迁移率高的材料;(2)减小栅氧化层厚度,制作高质量的尽可能薄的栅氧化层;(3)增大器件的宽长比;(4)减小器件的串联电阻。 2、在NPN双极型晶体管正向有源区工作时,IC ISexpIS

qVBEkT

qVBEkT

),

IB

F

[exp(

) 1],试求该器件正向电流增益 F,并说明提高 F的

几种途径。 其中,IC qAE

ni

2

DB

NBWB

exp(

qVBEkT

),IB qAE

ni

2

DE

NEWE

[exp(

qVBEkT

) 1]。(计

算推导9分,措施6分) 答案:经推导计算可得, F

ICIB

NEDBWENBDEWB

,提高 F的措施有:(1)增

大发射区/基区浓度比,即发射区采取重掺杂;(2)增大基区少数载流子的扩散系数,即选用NPN型器件;(3)增大发射区/基区厚度比,即减薄基区的厚度。

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